ビジュアル欠点検査装置 PLX-2000

高機能ビジュアル欠点検査装置
PLX-2000は視覚検査システムにおける多年の経験と実績を元に先進のシステムテクノロジーを駆使しローコストで実現した高精度、高速検査システムです。
好評のビジュアル欠点検査装置PLX-1000をさらにグレードアップし新たなニーズに応えたものです。既に、フィルム、電子部品、金属工業等の多くの生産現場で活躍中です。
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特徴

新開発カメラ I/F

40MHz、8192ビットまでのラインカメラ対応に対応し、PCIバス速転送を実現する欠点検査専用の高速、高信頼性インターフェースを搭載しています。 (経済産業省創造技術研究開発費補助金の交付を受けて開発したものです)

フレキシブル空間フィルタ

2×25,から7×7までのフレキシブル空間フィルタ、パイプライン欠点検出前処理回路によりリアルタイム欠点検出を実現します。 (経済産業省創造技術研究開発費補助金の交付を受けて開発したものです)

ビジュアル

豊富な経験をもとにWindows7搭載によるビジュアル化を図っています。欠点画像の蓄積、表示、ファイルへの保存、ファイルからの読み出しが可能です。

カメラ

1024ビットから8192ビット、10MHzから40MHzまでの高信頼性CCDカメラの中から、検出すべき欠点、S/N比、ライン速度、検査幅等お客様のライン仕様に合わせて最適のカメラを選定しご提供します。



シェーディング補正

波形ティーチング乗算補正方式、補正曲線指定方式によるシェーデイング補正が可能です。
テイーチング時には視野の端のマスク設定、波形スムージングの指定ができます。
補正曲線は、歪曲度、中心位置、中心高さ、最大レベル、最小レベルの指定を行います。

簡単操作

Windows XP Embedded /Windows Embedded Standard 7を搭載し、GUI によるビジュアル化を図り簡単操作を実現しています

ソフトウェア

豊富な経験と納入実績により蓄積された高信頼性ソフトウェアがモデル毎にライブラリとして用意されています。
独自のプログラミングシステムIPOSを搭載していますので、ユーザーニーズにマッチしたフレキシブルな システムを実現できます。
特定用途向けユーザーインターフェースも作成致します。

用途・欠点検出

用途

鋼材表面傷検査、ガラス異物検査、フィルムしわ検査、顆粒製品異物検査、断熱材表面キズ検査、セラミックシート表面検査磁気テープ表面傷検査、樹脂成型品黒焦げ検査等

欠点検出
対象物 検出方式 検出欠点
プラスチックフィルム 反射/透過 ピンホール、シワ、汚れ、ゲル
プラスチック成型品 反射 異物、気泡、黒点、クラック
金属表面 反射 表面キズ、汚れ
ガラス 透過 脈理、気泡、異物
紙、不織布 反射 ピンホール、汚れ、黒点、異物
その他 反射/透過 成形不良、形状異常

仕様

カメラ
インターフェース
カメラ画素数 MAX 8192ビット
クロック MAX 40MHz
台数 標準 1台 最大 7台
A/D変換 分解能8ビット256階調
ルックアップテーブル1面256バイト
(階調変換画像・2値化画像入力可能)
エンコーダ 同期機能有り
フレームメモリー DRAM 32MB、SRAM256KB、PCIバス経由読み出し可能
信号処理 2×25~7×7空間フィルタ、固定2値化、4値化
差分2値化・移動平均差分2値化
ランレングス検出etc.
シェーディング補正 波形ティーチング方式、補正曲線指定方式
外部入出力 シリアル
パラレル
デジタル入力
デジタル出力
2チャンネル
1チャンネル
フォトアイソレーション付き16点
フォトアイソレーション付き16点
ソフトウェア プログラミングシステムIPOSによるバッチ処理/連続処理ライブラリ
OS Windows XP/7 Embedded
外形寸法 432(W)×177(H)×478(D)mm
電源 AC100V±10%